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詳細信息
HUSTEC華科智源
HUSTEC-1600A-MT
IGBT測試機
一:IGBT測試機主要特點
華科智源HUSTEC-1600A-MT靜態測試儀可用于多種封裝形式的 IGBT測試,還可以測量大功率二極管 、IGBT模塊,大功率 IGBT、大功率雙極型晶體管MOS管等器件的 V-I 特性測試,測試600A(可擴展至2000A),5000V以下的各種功率器件,廣泛應用于軌道交通,電動汽車 ,風力發電,變頻器,焊機行業的IGBT來料選型和失效分析,設備還可以用于變頻器,風電,軌道交通,電焊機等行業的在線檢修,無需從電路板上取下來進行單獨測試,可實現在線IGBT檢測,測試方便,測試過程簡單,既可以在測試主機里設置參數直接測試,又可以通過軟件控制主機編程后進行自動測試,通過電腦操作完成 IGBT 的靜態參數測試;
IGBT測試機測試參數:
ICES 集電極-發射極漏電流
IGESF 正向柵極漏電流
IGESR 反向柵極漏電流
BVCES 集電極-發射極擊穿電壓
VGETH 柵極-發射極閾值電壓
VCESAT 集電極-發射極飽和電壓
ICON 通態電極電流
VGEON 通態柵極電壓
VF 二極管正向導通壓降
整個測試過程自動完成,電腦軟件攜帶數據庫管理查詢功能,可生成測試曲線,方便操作使用。
二:華科智源IGBT測試機應用范圍
A:IGBT單管及模塊,
B:大功率場效應管(Mosfet)
C:大功率二極管
D:標準低阻值電阻
E:軌道交通,風力發電,新能源汽車,變頻器,焊機等行業篩選以及在線故障檢測
三、華科智源IGBT測試機特征:
A:測量多種IGBT、MOS管
B:脈沖電流1200A,電壓5KV,測試范圍廣;
C:脈沖寬度 50uS~300uS
D:Vce測量精度2mV
E:Vce測量范圍>10V
F:電腦圖形顯示界面
G:智能保護被測量器件
H:上位機攜帶數據庫功能
I:MOS IGBT內部二極管壓降
J : 一次測試IGBT全部靜態參數
K: 生成測試曲線(IV曲線直觀看到IGBT特性,可以做失效分析以及故障定位)
L:可以進行不同曲線的對比,觀測同一批次產品的曲線狀態,或者不同廠家同一規格參數的曲線對比;
序號 |
測試項目 |
描述 |
測量范圍 |
分辨率 |
精度 |
1 |
VF |
二極管正向導通壓降 |
0~20V |
1mV |
±1%,±1mV |
2 |
IF |
二極管正向導通電流 |
0~1200A |
≤200A時,0.1A |
≤200A時,±1%±0.1A |
3 |
>200A時,1A |
>200A時,±1% |
|||
4 |
Vces |
集電極-發射極電壓 |
0~5000V |
1V |
±1%,±1V |
5 |
Ic |
通態集電極電流 |
0~1200A |
≤200A時,0.1A |
≤200A時,±1%±0.1A |
6 |
>200A時,1A |
>200A時,±1% |
|||
7 |
Ices |
集電極-發射極漏電流 |
0~50mA |
1nA |
±1%,±10μA |
8 |
Vgeth |
柵極-發射極閾值電壓 |
0~20V |
1mV |
±1%,±1mV |
9 |
Vcesat |
集電極-發射極飽和電壓 |
0~20V |
1mV |
±1%,±1mV |
10 |
Igesf |
正向柵極漏電流 |
0~10uA |
1nA |
±2%,±1nA |
11 |
Igesr |
反向柵極漏電流 |
|||
12 |
Vges |
柵極發射極電壓 |
0~40V |
1mV |
±1%,±1mV |
測試參數:
ICES 集電極-發射極漏電流
IGESF 正向柵極漏電流
IGESR 反向柵極漏電流
BVCES 集電極-發射極擊穿電壓
VGETH 柵極-發射極閾值電壓
VCESAT 集電極-發射極飽和電壓
ICON 通態電極電流
VGEON 通態柵極電壓
VF 二極管正向導通壓降
IGBT靜態參數測試儀整個測試過程自動完成,電腦軟件攜帶數據庫管理查詢功能,可生成測試曲線,方便操作使用
1) 物理規格
設備尺寸:500(寬)x 450(深)x 250(高)mm;
質量:30kg
2) 環境要求
海拔高度:海拔不超過 1000m;
儲存環境:-20℃~50℃;
工作環境:15℃~40℃。
相對濕度:20%RH ~ 85%RH ;
大氣壓力:86Kpa~ 106Kpa。
防護:無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導電粉塵等空氣污染的損害;
3) 水電氣 用電要求:AC220V,±10%;
電網頻率:50Hz±1Hz